2 實驗部分
2.1 實驗原料
實驗中所用到的钒酸主要原料與化學試劑見表 2-1，實驗中使用的银光研究主要儀器列於表 2-2。 2.2 工藝流程本論文不同章節采用不同方法製備，催化材料工藝流程會在各章節進行詳細說明。备及
2.3 樣品的钒酸表征
2.3.1 X 射線衍射儀（XRD）
X 射線衍射分析簡稱 XRD，是银光研究對物質的晶體結構進行分析的一種方法，主要用於無機非金屬材料的催化材料分析，不僅可以用來對晶體物質進行研究，备及也是钒酸研究某些非晶態物質的有效手段。本實驗中采用荷蘭 PANalytical 公司 MiniFlex 600 型衍射儀。银光研究輻射源為 CoK，催化材料管電壓 40 kV，备及管電流 40 mA，钒酸掃描範圍(2)為 15~75º，银光研究狹縫 DS，催化材料RS 和SS 分別為 1，0.3 mm 和 1，掃描速度為 16/min，采樣寬度為 0.02º，石墨單色器。
2.3.2 場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）
粉體的微觀形貌借助日本 Rigaku 公司生產的 JSM-6700F 型電鏡進行表征，首先將樣品分散在無水乙醇中，超聲使其分散均勻，滴加在樣品台的鋁箔上，烘幹噴金後對試樣進行掃描電鏡分析。
2.3.3 高倍率透射電子顯微鏡（HR-TEM）
高倍率透射電子顯微鏡可以對樣品的微觀結構和晶格條紋進行有效的分析，本論文借助德國 S-TWIN 公司的 TENAI G2F20 型電鏡來測試，加速電壓為 300 kV。
2.3.4 比表麵積分析（BET）
通過對樣品進行 N2吸附-脫附等溫線測試，得到樣品的比表麵積與孔徑分布情況，采用美國 Mac 公司 Quantum 2000 型表麵分析儀，測試溫度為-196 ℃。
2.3.5 X 射線光電子圖譜（XPS）
X 射線光電子圖譜可以有效測定樣品的表麵元素組成與化學狀態，采用日本 ULVAC-PHI 有限公司的 Model XSAM800 型電子光譜儀測試，采用 Al 靶 Ka射線。
2.3.6 紫外-可見漫反射光譜（Uv-Vis DRS）
樣品的紫外-可見漫反射光譜（Uv-Vis Diffuse Reflectance Spectra）采用美國 Agilent 公司的 Cary 5000 UV-Vis-NIR 型紫外-可見分光光度計測得，硫酸鋇為參考內標，對 200-800 nm 波長範圍的吸收情況進行記錄。
2.3.7 光致發光光譜（PL）
熒光光譜是用英國 Spectrofluorometer FS5 型分光光度計測試的，以 150 W氙燈作為光源進行光照，收集樣品的發光情況，激發波長設置為 315 nm。
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